Для цитирования:

Васильев А.С. Исследование, разработка и внедрение методик определения поверхностной плотности и массовой доли элементов для многослойных и многокомпонентных покрытий рентгенофлуоресцентным методом. Эталоны. Стандартные образцы. 2024;20(2):99-114. https://doi.org/10.20915/2077-1177-2024-20-2-99-114

For citation:

Vasiliev A.S. Research, Development and Implementation of Methods for Determining Surface Density and Mass Fraction of Elements for Multilayer and Multicomponent Coatings by X-Ray Fluorescence Method. Measurement Standards. Reference Materials. 2024;20(2):99-114. (In Russ.) https://doi.org/10.20915/2077-1177-2024-20-2-99-114