Preview

Эталоны. Стандартные образцы

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Юшина А.А., Асеев В.А., Левин А.Д. Разработка мер для метрологического обеспечения спектроскопии комбинационного рассеяния. Эталоны. Стандартные образцы. 2023;19(1):51-64. https://doi.org/10.20915/2077-1177-2023-19-1-51-64

For citation:


Yushina A.A., Aseev V.A., Levin A.D. Development of measures for metrological support of Raman spectroscopy. Measurement Standards. Reference Materials. 2023;19(1):51-64. (In Russ.) https://doi.org/10.20915/2077-1177-2023-19-1-51-64

Просмотров: 80


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0).


ISSN 2687-0886 (Print)