<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="review-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">rmjournal</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Эталоны. Стандартные  образцы</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Measurement Standards. Reference Materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2687-0886</issn><publisher><publisher-name>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.20915/2077-1177-2026-22-1-105-119</article-id><article-id custom-type="edn" pub-id-type="custom">MQHSVG</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">rmjournal-596</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Современные методы анализа веществ и материалов</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>Modern methods of analysis of substances and materials</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Возможности аргонового разрядного детектора для анализа примесей в аргоне высокой чистоты с целью внедрения в метрологическую практику путем оснащения ими хроматографов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Capabilities of an Argon Discharge Detector for the Analysis of Impurities in High-Purity Argon for the Purpose of Implementation into Metrological Practice by Equipping Chromatographs</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Конопелько</surname><given-names>Л. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Konopelko</surname><given-names>L. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Конопелько Леонид Алексеевич – д-р техн. наук, профессор кафедры «Теоретическая и прикладная метрология»</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Leonid A. Konopelko – Dr. Sci. (Eng.), Professor of the Department of Theoretical and Applied Metrology</p><p>19 Moskovsky ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">lkonop2@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-9815-1795</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Окрепилов</surname><given-names>М. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Okrepilov</surname><given-names>M. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Окрепилов Михаил Владимирович – д-р техн. наук, доцент, заместитель генерального директора по качеству и образовательной деятельности</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Mikhail V. Okrepilov – Dr. Sci. (Eng.), Associate Professor, Deputy Director of Quality and Educational Activity</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">m.v.okrepilov@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Завьялов</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zavyalov</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Завьялов Сергей Валерьевич – инженер-хроматографист 2-й категории</p><p>190013, г. Санкт-Петербург, а/я 113</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergey V. Zavyalov – 2nd category Chromatography Engineer</p><p>P.O. Box 113, St. Petersburg, 190013</p></bio><email xlink:type="simple">zsv@ooo-monitoring.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чуев</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Chuev</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Чуев Владимир Александрович – главный технолог производства стандартных образцов</p><p>190013, г. Санкт-Петербург, а/я 113</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir A. Chuev – Chief Technologist of Reference Material Production</p><p>P.O. Box 113, St. Petersburg, 190013</p></bio><email xlink:type="simple">chuev@ooo-monitoring.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru">ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева»<country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en">D. I. Mendeleyev Institute for Metrology<country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru">ООО «МОНИТОРИНГ»<country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en">MONITORING LLC<country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2026</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>06</day><month>04</month><year>2026</year></pub-date><volume>22</volume><issue>1</issue><fpage>105</fpage><lpage>119</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Конопелько Л.А., Окрепилов М.В., Завьялов С.В., Чуев В.А., 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Конопелько Л.А., Окрепилов М.В., Завьялов С.В., Чуев В.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Konopelko L.A., Okrepilov M.V., Zavyalov S.V., Chuev V.A.</copyright-holder><license license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/596">https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/596</self-uri><abstract><p>Массовое применение аргона в промышленности, микроэлектронике, медицине, метрологическом оборудовании и других производственных сферах предопределяет повышенные требования к идентификации в аргоне высокой чистоты примесей посторонних газов. Для определения содержания примесей в газообразном аргоне используют разные приборы и методы измерений — в зависимости от ожидаемого содержания примесей.</p><p>Однако перечень оборудования для определения примесей в чистом аргоне объемен, а сама процедура — длительная и трудоемкая.</p><p>Цель представленного в статье исследования — изучить возможности аргонового разрядного детектора для анализа примесей в аргоне высокой чистоты с перспективой его интеграции в метрологическую практику посредством оснащения хроматографов.</p><p>Авторы составили обзор физико-химических характеристик производимого в Российской Федерации аргона в соответствии с ТУ 2114-010-05015259-2015 «Аргон газообразный особой чистоты (сжатый)», ТУ 20.11.11-006-45905715-2017 «Аргон газообразный чистый и высокой чистоты», ГОСТ 10157–2016 «Аргон газообразный и жидкий. Технические условия», ТУ 6-21-12-94 «Аргон высокой чистоты. Технические условия». На основании перечисленных документов рассмотрели основные методы анализа примесей в чистом аргоне: колориметрические, кулонометрические, электрохимические, хроматографические. Привели описание конструктивных особенностей разрядного ионизационного детектора (DID) и его модификации, аргонового ионизационного детектора (АИД). Оценили принцип действия аргонового детектора, реализующего метод зависимости электрических параметров высоковольтного высокочастотного резонансного колебательного контура от параметров емкостно-связанной с ним плазмы чистого аргона.</p><p>В итоге установлены преимущества оснащения хроматографов аргоновым разрядным детектором, принцип действия которого основан на зависимости электрических параметров высоковольтного высокочастотного резонансного колебательного контура от параметров емкостно-связанной с ним плазмы чистого аргона. К преимуществам такого детектора отнесены повышение достоверности показаний, простота конструкции, снижение трудозатрат на проведение анализа.</p><p>Выводы исследования показали, что оснащенный подобным детектором хроматограф может быть внедрен в метрологическую практику для измерения примесей в сверхчистом аргоне. Представляется перспективным его интеграция в комплекс установок для воспроизведения единиц молярной доли, массовой доли и массовой концентрации компонентов в исходных чистых газах и веществах в составе Государственного первичного эталон единиц молярной доли, массовой доли и массовой концентрации компонентов в газовых и газоконденсатных средах ГЭТ 154–2019.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The widespread use of argon in industry, microelectronics, medicine, metrological equipment, and other industrial sectors predetermines increased requirements for the identification of foreign gas impurities in high-purity argon. Various measuring instruments and methods are used to determine the impurity content in gaseous argon, depending on the expected impurity content.</p><p>However, the range of equipment for determining impurities in pure argon is extensive, and the procedure is lengthy and labor-intensive.</p><p>The aim of the research is to study the capabilities of an argon discharge detector for the analysis of impurities in high-purity argon, with a view to its integration into metrological practice by equipping chromatographs with them.</p><p>The authors compiled a review of the physicochemical characteristics of argon produced in the Russian Federation in accordance with TU 2114-010-05015259-2015 “High-Purity Gaseous Argon (Compressed)”, TU 20.11.11-006-45905715-2017 “Pure and High-Purity Gaseous Argon”, GOST 10157–2016 “Gaseous and Liquid Argon. Specifications”, and TU 6-21-12-94 “High-Purity Argon. Specifications”. Based on these documents, the main methods for analyzing impurities in pure argon were considered: colorimetric, coulometric, electrochemical, and chromatographic methods. A description of the design features of the discharge ionization detector (DID) and its modification, the argon ionization detector (AID), was provided. The operating principle of the argon detector was evaluated; this detector implements a method based on the dependence of the electrical parameters of a high-voltage high-frequency resonant oscillatory circuit on the parameters of the capacitively coupled pure argon plasma.As a result, the advantages of equipping chromatographs with an argon discharge detector have been established. Its operating principle is based on the dependence of the electrical parameters of a high-voltage, high-frequency resonant oscillatory circuit on the parameters of the capacitively coupled pure argon plasma. The advantages of such a detector include increased reliability of readings, simplicity of design, and reduced labor costs for analysis.</p><p>The conclusions of the study showed that a chromatograph equipped with such a detector can be integrated into metrological practice for measuring impurities in ultra-pure argon. Its integration into the complex of installations for reproducing the measurement units of mole fraction, mass fraction, and mass concentration of components in initial pure gases and substances, which is part of the State Primary Standard of units of molar part, mass part and mass concentration of components in gas and gas condensate environs GET 154–2019, appears promising.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>аргон</kwd><kwd>аргоновый детектор</kwd><kwd>хроматограф: газовая хроматография</kwd><kwd>детекторы хроматографа</kwd><kwd>анализ примесей</kwd><kwd>метрологический анализ</kwd><kwd>чистый газ</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>argon</kwd><kwd>argon detector</kwd><kwd>chromatograph</kwd><kwd>gas chromatography</kwd><kwd>chromatograph detectors</kwd><kwd>impurity analysis</kwd><kwd>metrological analysis</kwd><kwd>pure gas</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фастовский В. Г., Ровинский А. Е., Петровский Ю. В. Инертные газы. М. : Атомиздат, 1972. 352 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fastovsky VG, Rovinsky AE, Petrovskiy YuV. Inert gases. Moscow: Atomizdat; 1972. 352 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Райхле Л. Аргон в металлургии. М. : Металлургия, 1971. 120 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Reichle L. Argon in metallurgy. Moscow: Metallurgy; 1971. 120 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Рафинирование стали инертным газом / Под ред. А. Ф. Каблуковского. М. : Металлургия, 1975. 231 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Refining steel with inert gas. Kablukovskij AF (eds.). Moscow: Metallurgy; 1975. 231 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Червоный И. Ф. Кремний поликристаллический полупроводниковый. Одесса : Куприенко С. В., 2018. 169 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chervony IF. Polycrystalline semiconductor silicon. Odessa: Kuprienko SV; 2018. 169 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Головко Г. А. Криогенное производство инертных газов. Л. : Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1983. 379 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Golovko GA. Cryogenic production of inert gases. Leningrad: Mashinostroenie, Leningrad Branch; 1983. 379 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Яшин Я. И., Яшин А. Я. Аналитическая хроматография. Методы, аппаратура, применение // Успехи химии. 2006. Т. 75, № 40. С. 366–379.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yashin YaI, Yashin AYa. Analytical chromatography. Methods, instrumentation and applications. Uspekhi Khimii. 2006;75(4):366–379. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">McNair H. M., Miller J. M., Snow N. H. Basic gas chromatography. Hoboken : John Wiley &amp; Sons, 2019. 288 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">McNair HM, Miller JM, Snow NH. Basic gas chromatography. Hoboken: John Wiley &amp; Sons; 2019. 288 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Grob R. L., Barry E. F. Modern practice of gas chromatography. Hoboken : John Wiley &amp; Sons, 2004. 1064 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Grob RL, Barry EF. Modern practice of gas chromatography. Hoboken: John Wiley &amp; Sons; 2004. 1064 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Яшин Я. И., Яшин Е. Я., Яшин А. Я. Газовая хроматография. М. : ТрансЛит, 2009. 528 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yashin YaI, Yashin EYa, Yashin AYa. Gas chromatography. Moscow: TransLit; 2009. 528 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Крылов Е. В. Газоразрядный ионизатор в аргоновом ионизационном детекторе // Журнал технической физики. 2000. Т. 70, № 11. С. 126–132.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Krylov EV. Gas discharge ionizer in an argon ionization detector. Zhurnal tekhnicheskoj fiziki. 2000;70(11):126–132. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ионизационный разрядный высокочастотный детектор : пат. № 2821842 РФ ; заявл. 12.02.2024 : опубл. 26.06.2024, Бюл. № 18. 10 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Konopelko LA, Gershkovich SN, Shtenger MB, Zavyalov SV. Ionization-Discharge High-Frequency Detector. Patent RF, no. 2821842, 2024. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Проблемы при анализе примесей в аргоне высокой чистоты / С. В. Завьялов [и др.] // За нами будущее : Тезисы докладов III Международной научно-практической конференции молодых ученых и специалистов и тексты работ участников пилотного Международного конкурса «Лучший молодой метролог МГС СНГ» 2024 года, 11–14 июня 2024 г. / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) [ и др.]. Санкт-Петербург : ООО «Типография Литас+», 2024. С. 304.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zavyalov SV, Chuev VA, Gershkovich SN, Konopelko LA. Problems in the analysis of impurities in high-purity argon. In: Za nami budushhee: Abstracts of the III international scientific and practical conference of young scientists and specialists and texts of the works of the participants of the pilot international competition “Luchshij molodoj metrolog MGS SNG” 2024, 11–14 June 2024, Saint Petersburg, Russia. Saint Petersburg: OOO “Tipografiya Litas+”; 2024. P. 304. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
