<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">rmjournal</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Эталоны. Стандартные  образцы</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Measurement Standards. Reference Materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2687-0886</issn><publisher><publisher-name>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.20915/2077-1177-2025-21-4-124-138</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">rmjournal-591</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Современные методы анализа веществ и материалов</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>Modern methods of analysis of substances and materials</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Тенденции развития метрологического обеспечения измерительных систем с учетом усложнения их функциональности</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Development Trends in Metrological Support for Measuring Systems Amidst their Growing Functional Complexity</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-5882-3160</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сулаберидзе</surname><given-names>В. Ш.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Sulaberidze</surname><given-names>V. Sh.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Сулаберидзе Владимир Шалвович – д-р техн. наук, старший научный сотрудник, ведущий научный сотрудник научно-исследовательской лаборатории теоретической метрологии</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir Sh. Sulaberidze – Dr. Sci. (Eng.), Senior Researcher, Leading Researcher of the Research Laboratory of Theoretical Metrology</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">sula_vlad@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-6222-5884</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чуновкина</surname><given-names>А. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Chunovkina</surname><given-names>A. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Чуновкина Анна Гурьевна – д-р техн. наук, ру-ководитель отдела метрологии; профессор кафедры метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anna G. Chunovkina – Dr. Sci. (Eng.), Head of the Metrology Department; Professor of the Department of Metrological Support for Innovative Technologies and Industrial Safety</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">a.g.chunovkina@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пронин</surname><given-names>А. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pronin</surname><given-names>A. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Пронин Антон Николаевич – генеральный директор</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anton N. Pronin – General Director</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">info@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0009-0005-0472-6962</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Неклюдова</surname><given-names>А. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nekliudova</surname><given-names>A. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Неклюдова Анастасия Александровна – канд. техн. наук, главный метролог, доцент кафедры теоретической и прикладной метрологии; доцент кафедры метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p><p>ResearcherID O-3887–2018</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anastasia A. Nekliudova – Cand. Sci. (Eng.), Chief Metrologist, Associate Professor of the Department of Theoretical and Applied Metrology; Associate Professor of the Department of Metrological Support for Innovative Technologies and Industrial Safety</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p><p>ResearcherID O-3887–2018</p></bio><email xlink:type="simple">a.a.tsurko@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-9868-1531</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Томский</surname><given-names>К. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tomskyi</surname><given-names>K. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Томский Константин Абрамович – д-р техн. наук, профессор кафедры теоретической и прикладной метрологии</p><p>190005, г. Санкт-Петербург, пр. Московский, 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Konstantin A. Tomskyi – Dr. Sci. (Eng.), Professor of the Department of Theoretical and Applied Metrology</p><p>19 Moskovskiy ave., St. Petersburg, 190005</p></bio><email xlink:type="simple">tka46@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева»; ФГАОУ ВО «Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology; Saint-Petersburg State University of Aerospace Instrumentation</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2025</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>18</day><month>01</month><year>2026</year></pub-date><volume>21</volume><issue>4</issue><fpage>124</fpage><lpage>138</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Сулаберидзе В.Ш., Чуновкина А.Г., Пронин А.Н., Неклюдова А.А., Томский К.А., 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Сулаберидзе В.Ш., Чуновкина А.Г., Пронин А.Н., Неклюдова А.А., Томский К.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Sulaberidze V.S., Chunovkina A.G., Pronin A.N., Nekliudova A.A., Tomskyi K.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/591">https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/591</self-uri><abstract><p>Архитектура и функциональность измерительных систем непрерывно усложняются. Вслед за тем неуклонно возрастает необходимость в совершенствовании их метрологического обеспечения, включая разработку новых подходов к поверке, калибровке и оцениванию неопределенности измерений в условиях динамического и интеллектуального взаимодействия компонентов. На основе анализа публикаций сформулированы ключевые этапы и тенденции развития измерительных систем, обусловленные процессами информатизации, автоматизации и повышения их функциональной многозадачности.Показано, как внедрение современных цифровых технологий, методов предиктивной аналитики и искусственного интеллекта трансформирует роль измерительных систем в управлении технологическими процессами, обеспечивая не только точный контроль параметров, но и активное участие в их регулировании и оптимизации.Особое внимание уделено влиянию этих изменений на повышение качества выпускаемой продукции за счет более глубокой и оперативной аналитики.Также затронуты актуальные вопросы терминологической согласованности, возникающие в результате интеграции информационных и измерительных технологий, что требует унификации понятийного аппарата в метрологии и смежных областях.Подчеркивается важность междисциплинарного подхода для обеспечения достоверности, воспроизводимости и сопоставимости измерений в современных цифровых производственных средах. Работа направлена на формирование основы для дальнейшего развития метрологической инфраструктуры в условиях цифровой трансформации промышленности.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>As the architecture and functionality of measuring systems grow increasingly complex, there is a corresponding and steady rise in the need to enhance their metrological support. This necessitates the development of new methods for verification, calibration, and measurement uncertainty assessment under conditions of dynamic and intelligent interaction between elements.Analysis of the literature has identified the key stages and current trends in the development of measurement systems, which are driven by informatization, automation, and the growth of their multifunctional capabilities. The article demonstrates how modern digital technologies, predictive analytics, and artificial intelligence are transforming the role of measurement systems in process control. It ensures not only precise parameter monitoring but also active participation in their regulation and optimization.The study highlights how these transformations enhance product quality by enabling more in-depth and real-time analytics.The study also examines the emerging terminological inconsistencies caused by the convergence of IT and measurement technologies, highlighting the need for a unified conceptual framework across metrology and related areas.The study underscores the necessity of an interdisciplinary approach to ensure measurement reliability, reproducibility, and comparability within modern digital production settings.The work aims to establish the foundation for the further development of the metrological infrastructure in the context of the digital transformation of industry.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>измерительная система</kwd><kwd>информатизация</kwd><kwd>автоматизация</kwd><kwd>многофункциональность</kwd><kwd>метрологическое обеспечение</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>measuring system</kwd><kwd>informatization</kwd><kwd>automation</kwd><kwd>multifunctionality</kwd><kwd>metrological support</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Захаров В. А., Волегов А. С. Метрологическое обеспечение измерительных систем : учебное пособие для студентов вуза, обучающихся по направлению подготовки 27.03.01, 27.04.01 «Стандартизация и метрология»: в двух частях. Екатеринбург : Издательство Уральского университета, 2018. 168 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zakharov VA, Volegov AS. Metrological support of measuring systems: a textbook for universities. In 2 vol. Yekaterinburg: Ural University Publishing House; 2018. 168 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Данилин А. А., Лавренко И. С. Измерения в радиоэлектронике : учебное пособие. Санкт-Петербург : Лань, 2022. 408 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Danilin AA, Lavrenko IS. Measurements in radio electronics: a textbook for universities. St. Petersburg: Lan; 2022. 408 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Данилов А. А. Метрологическое обеспечение измерительных систем : 4-е изд., перераб. и дополн. Санкт-Петербург : Политехника-Принт, 2017.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Danilov AA. Metrological support of measuring systems: 4th ed. St. Petersburg: Politekhnika-Print; 2017. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Парахуда Р. Н., Литвинов Б. Я. Информационно-измерительные системы: письменные лекции. Санкт-Петербург : СЗТУ, 2002. 76 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Parakhuda RN, Litvinov BYa. Information and measuring systems: written lectures. St. Petersburg: SZTU; 2002. 76 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шенброт И. М., Гинзбург М. Я. Расчет точности систем централизованного контроля. М. : Энергия, 1970. 408 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shenbrot IM, Ginzburg MYa. Calculation of the accuracy of centralized control systems. Moscow: Energy; 1970. 408 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Метрологическое обеспечение измерительных информационных систем (теория, методология, организация) / Е. Т. Удовиченко [и др.]. М. : Изд-во стандартов, 1991. 190 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Udovichenko YeT, Bragin AA, Semenyuk AL et all. Metrological support of measurement information systems (theory, methodology, organization). Moscow: Izdatel’stvo standartov; 1991. 190 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Automation in sensor network metrology: An overview of methods and their implementations / A. P. Vedurmudi [et all.] // Measurement: Sensors. 2025. Vol. 38, Supplement. P. 101799. https://doi.org/10.1016/j.measen.2024.101799</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vedurmudi AP, Miličević K, Kok G, Yong BX, Xu L, Zheng G et all. Automation in sensor network metrology: An overview of methods and their implementations. Measurement: Sensors. 2025;38(Supplement):101799. https://doi.org/10.1016/j.measen.2024.101799</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Емельянов В. А., Афонин Д. В. Особенности метрологического обеспечения информационно-измерительных систем // Мир измерений. 2012. № 11. С. 42–45.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yemelyanov VA, Afonin DV. Specifics of measurement suppor of data measuring systems. Measurements World. 2012;11:42–45. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ильин В. А. Телеконтроль и телеуправление : учебное пособие для вузов. М. : Энергия, 1969. 343 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ilyin VA. Telecontrol and telemanagement: a textbook for universities. Moscow: Energia; 1969. 343 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Солопченко Г. Н. Измерительные информационные системы: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки магистров «Системный анализ и управление». Санкт-Петербург : Изд-во Политехнического ун-та, 2010. 200 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Solopchenko GN. Measuring information systems: a textbook for universities. St. Petersburg: Izdatel’stvo Politekhnicheskogo universiteta; 2010. 200 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
