<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">rmjournal</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Эталоны. Стандартные  образцы</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Measurement Standards. Reference Materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2687-0886</issn><publisher><publisher-name>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.20915/2077-1177-2024-20-4-103-116</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">rmjournal-523</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Современные методы анализа веществ и материалов</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>Modern methods of analysis of substances and materials</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>О состоянии и перспективах совершенствования   метрологического обеспечения в области измерений толщины покрытий рентгенофлуоресцентным методом</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Current State and Prospects for Improving Metrological Support in the Field of Measuring the Thickness of Coatings Using the X-ray Fluorescence Method</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-9203-9994</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шипицына</surname><given-names>М. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Shipitsyna</surname><given-names>M. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Шипицына Мария Вячеславовна – ведущий инженер лаборатории термометрии и поверхностной плотности</p><p>Researcher ID: AAD-9925–2022</p><p>620075,  г. Екатеринбург, ул. Красноармейская, д.4</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Maria V. Shipitsyna – Leading Engineer  of the Laboratory of Metrology, Thermometry and Surface Density</p><p>Researcher ID: AAD-9925–2022 </p><p>4 Krasnoarmeyskaya st., Yekaterinburg, 620075</p></bio><email xlink:type="simple">ShipitsynaMV@uniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-2032-3427</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Тюрнина</surname><given-names>А. Е.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tyurnina</surname><given-names>A. E.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Тюрнина Анастасия Евгеньевна – и. о. заведующего лабораторией термометрии и поверхностной плотности</p><p>620075,  г. Екатеринбург, ул. Красноармейская, д.4</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anasatsiya E. Tyurnina – Acting Head of the Laboratory of Metrology, Thermometry and Surface Density</p><p>4 Krasnoarmeyskaya st., Yekaterinburg, 620075</p></bio><email xlink:type="simple">turninaae@uniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru">Уральский научно-исследовательский институт метрологии – филиал ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева»<country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en">UNIIM – Affiliated Branch of the D. I. Mendeleyev Institute for Metrology<country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2024</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>04</day><month>01</month><year>2025</year></pub-date><volume>20</volume><issue>4</issue><fpage>103</fpage><lpage>116</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Шипицына М.В., Тюрнина А.Е., 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Шипицына М.В., Тюрнина А.Е.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Shipitsyna M.V., Tyurnina A.E.</copyright-holder><license license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/523">https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/523</self-uri><abstract><p>Обсудить в научной среде практику применения рентгенофлуоресцентного метода измерения толщины покрытий авторов побудила высокая востребованность метода, все возрастающая в Российской Федерации по мере развития в стране высокотехнологичного сектора машиностроения, приборостроения и электроники.</p><p>Представленный в статье обзор может предопределить перспективы совершенствования метрологического обеспечения метода рентгенофлуоресцентной спектрометрии и шире – в целом в области неразрушающих методов измерений толщины покрытий. Авторами воедино собран и систематизирован библиографический материал по видам покрытий, способам их нанесения, о преимуществах и ограничениях неразрушающих методов измерений толщины покрытий. На основе этих данных сформулированы вопросы, которые могут дать направление для научных исследований с целью развития неразрушающих методов контроля толщины покрытий.</p><p>Опубликованный материал адресован в первую очередь метрологам, обеспечивающим контроль в этой сфере, и изготовителям приборов и средств контроля качества покрытий. Авторский коллектив допускает развитие дискуссии с учетом мнения и опыта применения неразрушающего контроля толщины покрытий в условиях действующего производства.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The authors were prompted to discuss the practice of using the X-ray fluorescence for measuring coating thickness in the scientific community by the high demand for the method, which is constantly growing in the Russian Federation as the high-tech sector of mechanical engineering, instrument making and electronics develops in the country.</p><p>The review presented in the article can predetermine the prospects for improving the metrological support of the X-ray fluorescence spectrometry and, more broadly, in the field of non-destructive measurements of coating thickness in general. The authors collected and systematized bibliographic material on types of coatings, methods of their application, advantages and limitations of non-destructive measurements of coating thickness. Based on these data, questions are formulated that can provide direction for scientific research aimed at developing non-destructive methods for testing coating thickness.</p><p>The published material is addressed primarily to metrologists providing control in this area and manufacturers of instruments and means for monitoring the quality of coatings. The authors allow the development of the discussion taking into account the opinion and experience of using non-destructive testing of coating thickness in the conditions of the current production.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>толщина покрытий</kwd><kwd>неразрушающие методы измерений</kwd><kwd>рентгенофлуоресцентный анализ</kwd><kwd>плотность покрытий</kwd><kwd>метод гидростатического взвешивания</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>coating thickness</kwd><kwd>non-destructive measurements</kwd><kwd>X-ray fluorescence</kwd><kwd>coating density</kwd><kwd>hydrostatic weighing method</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Потапов А. И., Сясько В. А. Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий. Научное, методическое и справочное пособие. СПб., 2009. 904 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Potapov A. I., Syasko V. A. Non-destructive methods and means of monitoring the thickness of coatings and products. Scientific, methodological and reference manual. St. Petersburg; 2009. 904 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Козлов Д. Ю. Руководство для подготовки инспекторов по визуальному и измерительному контролю качества окрасочных работ. Екатеринбург : ООО «ИД «Оригами», 2009. 202 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kozlov D. Yu. Guide for training inspectors for visual and measuring quality control of painting works. Yekaterinburg: OOO «ID «Origami»; 2009. 202 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Голубев С. С., Смирнова Н. И. Метрологическое обеспечение бесконтактных методов измерения толщины покрытий // Технологии НК. 2017. Т. 20, № 1. С. 10–13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Golubev S. S., Smirnova N. I. Metrological assurance of noncontact methods of coating thickness measurement. NDT World. 2017;20(1):10–13. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Голубев С. С., Бабаджанов Л. С., Бабаджанова М. Л. Структура и содержание метрологического обеспечения оценки соответствия характеристик при контроле качества покрытий // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83, № 4. С. 71–74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Golubev S. S., Babadzhanov L. S., Babadzhanova M. L. The structure and content of metrological assurance of assessing the conformity of indicators upon quality control of coatings. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2017;83(4):71–74. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бабаджанов Л. С., Бабаджанова М. Л. Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий. Теория и практика. М. : ИПК Издательство стандартов, 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Babajanov L. S., Babajanova M. L. Metrological support for coating thickness measurements. Theory and practice. Moscow: IPK Izdatel’stvo standartov; 2004. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зенин Б. С., Овечкин Б. Б. Современные технологии модифицирования поверхности и нанесения покрытий: учебное пособие. Томск : Томский политехнический университет, 2008. 75 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zenin B. S., Ovechkin B. B. Modern technologies for surface modification and coating. Study guide. Tomsk: Tomsk Polytechnic University; 2008. 75 p. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Исследование плотности наносимого функционального покрытия плазменным напылением с использованием методологии многофакторного эксперимента / С. Ю. Жачкин [и др.] // Воздушно-космические силы. Теория и практика. 2022. № 24. С. 63–71.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhachkin C. Yu., Triphonov G. I., Krasnov A. A., Strunkin P. V. The study of the density of the applied functional covering by plasma spraying with the help of the multifactorial experiment methodology. Aerospace Forces. Theory and Practice. 2022;24:63–71. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Козенков О. Д., Пташкина Т. В., Косилов А. Т. Плотность и микротвердость композиционных покрытий, содержащих углеродные наноматериалы // Вестник Воронежского государственного технического университета. 2015. Т. 11, № 1. С. 56–60.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kozenkov O. D., Ptashkina T. V., Kosilov A. T. Density and microhardness of composite coatings containing carbon nanomaterials. Bulletin of Voronezh State Technical University. 2015;11(1):56–60. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Status quo und trends der galvanotechnik / T. Lampke [et al.] // Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 2008. Vol. 39, № 1. P. 52–57. https://doi.org/10.1002/mawe.200700241</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lampke T., Steiger H., Zacher M., Steinhauser S., Wielage B. Status quo und trends der galvanotechnik. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 2008;39(1):52–57. https://doi.org/10.1002/mawe.200700241</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">The current distribution in electrochemical cells // Fundamental Aspects of Electrometallurgy. Boston, MA: Springer, 2005. P. 101–143. https://doi.org/10.1007/0-306-47564-2_4</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">The current distribution in electrochemical cells. In: Fundamental Aspects of Electrometallurgy. Boston, MA: Springer; 2005. P. 101–143. https://doi.org/10.1007/0-306-47564-2_4</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Electroplating for decorative applications: recent trends in research and development / W. Giurlani [et al.] // Coatings. 2018. Vol. 8, № 8. P. 260. https://doi.org/10.3390/coatings8080260</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Giurlani W., Zangari G., Gambinossi F., Passaponti M., Salvietti E., Di Benedetto F., et al. Electroplating for decorative applications: recent trends in research and development. Coatings. 2018;8(8):260. https://doi.org/10.3390/coatings8080260</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Наумчик И. В., Шевченко А. В., Алексеев К. В. Неразрушающий контроль толщины покрытий // Фундаментальные исследования. 2015. № 12–5. C. 935–939.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Naumchik I. V., Shevchenko A. V., Alekseev K. V. Non-destructive testing of thickness of coverings. Fundamental Research. 2015;(12–5):935–939. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Scialla E., Brocchieri J., Sabbarese C. Comparison of different methodologies for estimating gold thickness in multilayer samples using XRF spectra // Applied Radiation and Isotopes. 2023. Vol. 191. P. 110517. https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2022.110517</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Scialla E., Brocchieri J., Sabbarese C. Comparison of different methodologies for estimating gold thickness in multilayer samples using XRF spectra. Applied Radiation and Isotopes. 202;191:110517. https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2022.110517</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Measuring the thickness of metal coatings: a review of the methods / W. Giurlani [et al.] // Coatings. 2020. Vol. 10, № 12. P. 1211. https://doi.org/10.3390/coatings10121211</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Giurlani W., Berretti E., Innocenti M., Lavacchi A. Measuring the thickness of metal coatings: a review of the methods. Coatings. 2020;10(12):1211. https://doi.org/10.3390/coatings10121211</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Thickness determination of metal multilayers by ED-XRF multivariate analysis using Monte Carlo simulated standards / / W. Giurlani [et al.] // Analytica Chimica Acta. 2020. Vol. 1130. P. 72–79. https://doi.org/10.1016/j.aca.2020.07.047</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Giurlani W., Berretti E., Lavacchi A., Innocenti M. Thickness determination of metal multilayers by ED-XRF multivariate analysis using Monte Carlo simulated standards. Analytica Chimica Acta. 2020;1130:72–79. https://doi.org/10.1016/j.aca.2020.07.047</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Васильев А. С. Исследование, разработка и внедрение методик определения поверхностной плотности и массовой доли элементов для многослойных и многокомпонентных покрытий рентгенофлуоресцентным методом // Эталоны. Стандартные образцы. 2024. Т. 20, № 2. С. 99–114. https://doi.org/10.20915/2077-1177-2024-20-2-99-114</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vasiliev A. S. Research, development and implementation of methods for determining surface density and mass fraction of elements for multilayer and multicomponent coatings by X-ray fluorescence method. Measurement Standards. Reference Materials. 2024;20(2):99–114. (In Russ.). https://doi.org/10.20915/2077-1177-2024-20-2-99-114</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Revenko A. G., Tsvetyansky A. L., Eritenko A. N. X-ray fluorescence analysis of solid-state films, layers, and coatings // Radiation Physics and Chemistry. 2022. Vol. 197. P. 110157. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110157</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Revenko A. G., Tsvetyansky A. L., Eritenko A. N. X-ray fluorescence analysis of solid-state films, layers, and coatings. Radiation Physics and Chemistry. 2022;197:110157. (In Russ.). https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110157</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ревенко А. Г., Пашкова Г. В. Рентгенофлуоресцентный анализ: современное состояние и перспективы развития // Журнал аналитической химии. 2023. Т. 78, № 11. C. 980-1001. https://doi.org/10.31857/S0044450223110130</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Revenko A. G., Pashkova G. V. X-Ray fluorescence spectrometry: current status and prospects of development. Journal of Analytical Chemistry. 2023;78(11):980–1001. (In Russ.). https://doi.org/10.31857/S0044450223110130</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Казанцев В. В., Медведевских С. В., Васильев А. С. Государственный первичный эталон единиц поверхностной плотности и массовой доли элементов в покрытиях ГЭТ 168-2015 // Измерительная техника. 2018. № 9. С. 17–19. https://doi.org/10.32446/0368-1025it-2018-9-17-19</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kazantsev V. V., Medvedevskikh S. V., Vasiliev A. S. State primary standard of units of surface density and mass fraction of elements in coatings GET 168-2015. Measuring technology. 2018;9:17–19. (In Russ.). https://doi.org/10.32446/0368-1025it-2018-9-17-19</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kazantsev V., Hoffmann K-P. Final report on CCL supplementary comparison COOMET 527/Ru/11 COOMET.L-S16 // Metrologia. 2015. Vol. 52, № 1A. P. 04001. https://doi.org/10.1088/0026–1394/52/1A/04001</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kazantsev V., Hoffmann K-P. Final report on CCL supplementary comparison COOMET 527/Ru/11 COOMET.L-S16. Metrologia. 2015;52(1A):04001. https://doi.org/10.1088/0026-1394/52/1A/04001</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dimple grinding coupled with optical microscopy for porosity analysis of metallic coatings / H. Hu [et al.] // Micron. 2024. Vol. 178. P. 103593. https://doi.org/10.1016/j.micron.2024.103593</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hu H., He A., Aasen D., Shukla S., Ivey D. G. Dimple grinding coupled with optical microscopy for porosity analysis of metallic coatings. Micron. 2024;178:103593. https://doi.org/10.1016/j.micron.2024.103593</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Соколовский С. С., Астапович О. С. Выбор метода и средств измерений плотности пористых композиционных материалов с открытыми порами // Приборостроение – 2019: материалы 12-й Международной научно-технической конференции, Минск, 13–15 ноября 2019 года. Минск : Белорусский национальный технический университет, 2019. C. 228–229.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sokolovskii S. S., Astapovich O. S. Selection of the method and means for measuring the density of porous composite materials with open pores. In: Instrument-making – 2019: Proceedings of the 12th International Scientific and Technical Conference, 13–15 November 2019; Minsk. Minsk: Belarusian National Technical University; 2019. P. 228–229. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сильченко О. Б., Силуянова М. В., Хопин П. Н. Исследование плотности и пористости покрытий из керамополимеров или композиционных материалов с квазикристаллами, полученных газодетонационным методом и методом газодинамического напыления // Вестник Брянского государственного технического университета. 2020. № 7. С. 4–11.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Silchenko O. B., Siluyanova M. V., Khopin P. N. Study of the density and porosity of coatings made of ceramic polymers or composite materials with quasicrystals obtained by the gas detonation method and the method of gas dynamic spraying. Bulletin of the Bryansk State Technical University. 2020;7:4–11. (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
